AFM

设备特点概览:

1 HJAFM-1100 带来埃米级别的扫描精度，同时可提供相位，电场，磁场和导电性能的多种测量模式，为实验室提供快速精准的量测数据，是纳米科学实验与研究的最佳工具之一。

2. Z向噪音水平小于0.04nm。

3. 200mmX200mm样品台或300mmX300mm样品台(可选)

4. 标配多种工作模式。

5. 智能进针和扫描。

6. 自动定位及自动换针功能(可选)

技术参数:

　　1、扫描器

　　　· XY轴扫描器扫描范围：100μmX100μm，线性误差：小于0.1%

　　　· Z轴扫描器扫描范围：10μm (可升级/定制更大量程)

　　2、运动平台X/Y行程：200mm或300mm(可选)

　　3、样品架样品尺寸：200mmX200mm或300mmX300mm(可选)

　　4、最大样品高度：48mm

工作模式:

        1、静态力模式

　　2、动态力模式

　　3、相位成像模式

　　4、横向力模式

　　5、磁力模式

　　6、静电力模式

　　7、扩展电阻显微镜(导电力)

　　8、力调制模式

　　9、纳米刻蚀

　　10、谱线测量模式

　　　· 力-距离曲线

　　　· 振幅-距离曲线

　　　· 电压-距离曲线

Key words: 

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